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固体污染度分级测试

2026-01-28关键词:固体污染度分级测试,中析研究所,CMA/CNAS资质,北京中科光析科学技术研究所相关:
固体污染度分级测试

固体污染度分级测试摘要:固体污染度分级测试是评价精密制造领域中零部件及材料表面洁净程度的关键技术。该测试通过系统分析表面残留的颗粒物、无机与有机污染物,为产品的可靠性、性能及长期稳定性提供核心数据支撑,是质量控制与故障分析的重要环节。

参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1.颗粒污染物分析:大于规定尺寸的颗粒数量统计、颗粒尺寸分布、颗粒物形貌观察。

2.非挥发性残留物:总有机碳含量、总无机碳含量、离子色谱分析。

3.无机元素分析:金属阳离子含量、阴离子含量、微量元素筛查。

4.有机污染物鉴定:可萃取的有机物分析、硅氧烷类物质、增塑剂残留。

5.表面活性剂残留:阴离子表面活性剂、非离子表面活性剂。

6.油脂类污染:矿物油、合成酯、动植物油脂残留。

7.微粒化学组成:单个颗粒的能谱分析、颗粒物来源鉴别。

8.清洁工艺验证:清洗前后污染物对比、清洁效率评估。

9.洁净度等级评定:根据标准图谱或定量数据进行污染度分级。

10.微观形貌检查:表面划痕、附着物、腐蚀点的观测与记录。

检测范围

半导体硅片、集成电路芯片、引线框架、陶瓷封装基板、金属精密结构件、光学镜片与透镜、医用植入体部件、航空航天液压件、高纯流体系统管路、硬盘磁头与盘片、液晶显示面板、微型传感器、精密轴承、燃料电池双极板、真空腔体内部件、连接器与接插件、激光器晶体、注塑成型模具型腔

检测设备

1.光学粒子计数器:用于对清洗液或颗粒萃取液中的悬浮颗粒进行尺寸分级与数量统计;采用光散射原理,可检测微米级乃至亚微米级的颗粒。

2.扫描电子显微镜:用于高倍率观察样品表面附着颗粒的微观形貌与分布状态;配合能谱仪可对单个颗粒进行元素成分分析。

3.总有机碳分析仪:通过高温催化氧化法或紫外氧化法,定量测定样品表面或溶液中非挥发性有机碳的总含量。

4.离子色谱仪:用于分离和定量检测样品萃取液中常见的阴离子和阳离子杂质,如氯离子、硫酸根、钠离子、钾离子等。

5.气相色谱-质谱联用仪:用于分离、鉴定与半定量分析样品表面可挥发性及半挥发性有机污染物,可建立污染物特征谱库。

6.傅里叶变换红外光谱仪:通过红外吸收光谱对表面污染物进行官能团分析,适用于鉴定有机涂层、油脂及某些聚合物残留。

7.超声波萃取装置:利用超声波空化效应,将附着在样品表面的污染物高效萃取到特定溶剂中,以供后续仪器分析。

8.膜过滤系统:用于将大量清洗液中的颗粒污染物收集到特定材质的滤膜上,以便进行重量分析或显微镜观察。

9.分析天平:高精度天平用于执行称重法洁净度测试,通过清洗前后样品的重量差来评估污染物总量。

10.超纯水制备系统:为整个测试过程提供电导率极低的超纯水,确保实验用水不引入额外的背景污染。

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

中析仪器资质

中析固体污染度分级测试-由于篇幅有限,仅展示部分项目,如需咨询详细检测项目,请咨询在线工程师

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